据闪德资讯获悉，韩国半导体测试设备制造商Neosem近日宣布，已与三星电子正式签署下一代存储检测设备CLT的供货合同，合同金额达86亿韩元。

这一金额占Neosem去年合并营收的13.5%，标志着该公司首次向三星大规模批量供应CLT设备。

CLT是一款新一代腔式低频存储器检测设备，主要用于在老化测试后验证DRAM的二次稳定性。

该设备能够精确评估DRAM在低速数据读写、空闲状态下的稳定性及长期可靠性，有效识别高速运行中难以暴露的漏电流与数据错误等潜在缺陷。

此次订单表明，Neosem的设备性能与兼容性已全面通过三星的验证。作为供应链多元化战略的一部分，三星正推动不同制造商的设备之间实现接口板（CIB）的互换兼容。

随着此次大额订单的落地，预计Neosem今年来自三星的CLT及CIB相关营收合计将超过155亿韩元。

该合同有效期至2026年12月31日，设备将交付至三星温阳园区，采用自产与外协并行的模式生产。

据行业消息人士7月12日透露，三星电子正着手将其龙仁芯片集群首座半导体工厂的投产时间提前至2029年，比原计划提早一至两年。“首座工厂提前投产将使三星能够更快地应对全球对人工智能芯片迅速增长的需求，”一位行业官员表示。

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